LCR-тестер HIOKI 3522-50
Ключевые факты
- Частотный диапазон: DC(0,001 ГЦ) – 100 кГц
- Ёмкость: от 0.01 пФ
- Сопротивление: от 0.01 Ом
- Индуктивность: от 0.01 мкГн
Описание
LCR (индуктивность, ёмкость, сопротивление)
В наличии по самой низкой стоимости
Высокая скорость измерений: 5 мс;
Высокая точность: ± 0.08 %;
Четырнадцать измеряемых параметров ;
Сенсорный ЖК-дисплей;
Диапазоны измерений
R:100 мОм до 100 МОм, 10 диапазонов
C: 0.3200 пФ до 1.000 Ф
L: 16.000 нН до 750.00 кH
Общее описание
HIOKI 3522-50 — это профессиональный измерительный прибор для комплексного анализа электронных компонентов, предназначенный для измерения параметров LCR (индуктивность, ёмкость, сопротивление).
Основные характеристики
- Частотный диапазон: 10 Гц – 100 кГц
- Измеряемые параметры:
- Индуктивность (L)
- Ёмкость
- Сопротивление
- Тангенс угла потерь
- Добротность (Q)
- Точность измерений:
- Погрешность измерения ёмкости: ±0.1%
- Погрешность измерения индуктивности: ±0.2%
- Погрешность измерения сопротивления: ±0.1%
- Разрешение:
- Ёмкость: до 0.01 пФ
- Индуктивность: до 0.01 мкГн
- Сопротивление: до 0.01 Ом
Функциональные возможности
- Автоматическое определение типа компонента
- Многопараметрический анализ
- Хранение данных во внутренней памяти
- Графическое представление результатов измерений
- Синхронизация с компьютером
Интерфейсы и подключение
- USB-порт для подключения к ПК
- Интерфейс GPIB (опционально)
Области применения
- Контроль качества электронных компонентов
- Калибровка измерительного оборудования
- Тестирование конденсаторов, катушек индуктивности, резисторов
- Диагностика электронных схем
Преимущества прибора
- Высокая точность измерений
- Широкий диапазон измеряемых параметров
- Простота использования благодаря интуитивно понятному интерфейсу
- Компактные размеры и портативность
- Надежность
Дополнительные функции
- Автоматическая компенсация паразитных параметров
- Автоматическое переключение диапазонов измерения
Прибор идеально подходит для использования в лабораториях, производственных условиях и при проведении научно-исследовательских работ, где требуется высокая точность измерений параметров электронных компонентов.